دستگاه سختی سنج EQUOTIP 550


admin مهر ۱۴, ۱۳۹۴ دقیقه مطالعه
iOS 14

دستگاه سختی سنج EQUOTIP 550

سختی سنج فلزات قابل حمل دیجیتالی EQUOTIP 550  مجموعه D به همراه تجهیزات جانبی شامل :

پرتابگر D با( کابل ۱٫۵ متری ، حلقه D6 وd6a ، برس پاک کننده ، یک عدد پرتابهD ) ، تست بلوک D ،

کابل USB ،نرم افزار انتقال اطلاعات به کامپیوتر و مدیریت فایل ها ، شارژر، کیف حمل ، خمیر کوپلینگ ،

تائیدیه کالیبراسیون و کنترل کیفیت نهایی ،دفترچه راهنما ساخت شرکت Proceq سوئیس

سختی سنج فلزات مدل Equotip 550 Leeb

دستگاه Equotip 550 چندکاره‌ترین مدل قابل حمل و نقل برای تست سختی فلز می‌باشد. اصل سختی لیب ( Leeb hardness principle) بر اساس روش دینامیکی (rebound) پایه‌گذاری شده و بهترین مورد برای تست بخش‌های بزرگ، سنگین و ازپیش نصب شده در خود سایت می‌باشد.
در ترکیب با Equotip Portable Rockwell Probe، مدل Equotip 550 می‌تواند با توجه به روش تست استاتیک Rockwell، بسط داده شود. نوع جدید صفحه نمایش قابل لمس Equotip تجربه‌ای خاص را برای کاربر بهمراه دارد. نرم‌افزار تقویت‌شده این دستگاه، بخش‌های محاوره‌ای، پروسه‌های صحت‌سنج اتوماتیک، گزینه‌های شخصی‌ساز و توابع گزارش را ارائه می‌دهد. علاوه بر این، با تغییرات و پیشرفت‌هایی که در آینده ایجاد می‌شود، سازگار است.
صفحه تمام رنگی، امکان جمع‌آوری اطلاعات و بررسی آنها را به بهترین نحو، ممکن می‌سازد. طراحی خاص بدنه این دستگاه باعث می‌شود تا بتوان از آن در شرایط سخت محیطی نیز استفاده کرد. دستگاه‌های Equotip نیاز برای تست غیرمخرب سختی در رنج وسیعی از صنایع را برآورده می‌سازد.

Equotip 550 Leeb

The Equotip 550 is the most versatile all-in-one solution for portable hardness testing.

The Leeb hardness principle is based on the dynamic (rebound) method and is best suited for on-site testing of heavy, large or already installed parts.

In combination with the Equotip Portable Rockwell Probe, the Equotip 550 can be extended with the traditional Rockwell static test method.

This additionally allows automatic on-site correlation of Leeb to Portable Rockwell true indention hardness value. 

The new generation Equotip Touchscreen interface is specifically designed to provide an exceptional user experience.

The enhanced software provides interactive wizards, automatic verification processes, personalization options and custom report functions.

Furthermore, it is compatible with upcoming developments.

The full color display allows best possible measuring and analysis of the measured data.

The specially designed housing optimizes the on-site usage of the device in harsh environments.

To date, Proceq’s Equotip has become established as a globally recognized measuring technique and a de facto industry standard.

The Equotip devices fully meet the demand for non-destructive hardness testing in a broad range of industries.

More Information

Instrument:

Display۷” color display 800×480 pixels
MemoryInternal 8 GB Flash memory (up to 1’۰۰۰’۰۰۰ measurements)
Regional settingsMetric and Imperial units, multi-language and timezone supported
BatteryLithium Polymer, 3.6 V, 14.0 Ah
Battery lifetime> 8h (in standard operating mode)
Power input

۱۲ V +/-25 % / 1.5 A

Weight (of display device)About 1525 g (incl. Battery)
Dimensions۲۵۰ x 162 x 62 mm
Max. altitude۲’۵۰۰ m above sea level
Humidity< 95 % RH, non condensing
Operating temperature۰°C to 30°C (32 to 86°F) (Charging, running instrument)
۰°C to 40°C (32 to 104°F) (Charging, instrument is off)
-۱۰°C to 50°C (14 to 122°F) (Non-charging)
EnvironmentSuitable for indoor & outdoor use
IP classificationIP 54
Pollution degree۲
Installation category۲


Equotip Leeb Impact Devices:

Measuring range۱-۹۹۹ HL
Measuring accuracy± ۴ HL (0.5 % at 800 HL)
Resolution۱ HL; 1 HV; 1 HB; 0.1 HRA; 0.1 HRB; 0.1 HRC; 0.1 HS; 1 MPa (N/mm2)
Impact directionAutomatic compensation (excl. DL probe)
Impact energy 
  • ۱۱٫۵ Nmm for D, DC, E, S probes
  • ۱۱٫۱ Nmm for DL probe
  • ۳٫۰ Nmm for C probe
  • ۹۰٫۰ Nmm for G probe
Mass of impact body
  • ۵٫۴۵ g (0.2 ounces) for D, DC, E, S probes 
  • ۷٫۲۵ g (0.26 ounces) for DL probe 
  • ۳٫۱۰ g (0.11 ounces) for C probe 
  • ۲۰٫۰ g (0.71 ounces) for G probe
Ball indenter
  • Tungsten carbide, 3.0 mm (0.12“) diameter for C, D, DC probes 
  • Tungsten carbide, 2.78 mm (0.11“) diameter for DL probe 
  • Tungsten carbide, 5.0 mm (0.2“) diameter for G probe 
  • Ceramics, 3.0 mm (0.12”) diameter for S probe 
  • Polycrystalline diamond, 3.0 mm (0.12”) diameter for E probe
Operating temperature–۱۰˚C to 50˚C (14 to 122°F)

 

شرکت پترو پژوهش خاورمیانه(سهامی خاص)

نمایندگی PROCEQ سوئیس در ایران

۰۲۱-۷۷۱۳۰۶۸۷-۸

۰۲۱-۷۷۲۲۸۶۷۹

۰۹۱۲۲۷۱۰۲۶۹

 

دستگاه سختی سنج EQUOTIP 550-دستگاه سختی سنج پروسک-دستگاه اکوتیپ-دستگاه سختی سنج پرتابل-دستگاه سختی سنج EQUTIP

 

برچسب‌ها :

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

Rating*