عیب یاب اولتراسونیک فیزره VEO-عیب یاب سه بعدی سوناتست
اولتراسونیک پیشرفته فیزره Phased Array مدل Veo ساخت کمپانی سوناتست انگلستان
فروش ویژه دستگاه عیب یاب اولتراسونیک 16-128 ساخت سوناتست انگلستان
عیب یاب التراسونیک سه بعدی پیشرفته VEOدانلود کاتالوگ
مدل :16-128
veo 16:128 Specification
Phased Array
- Configuration 16:128 (16 pulser/receivers; driving up to 128 elements)
- Transducer Socket I-PEX
- Pulse Voltage -50 V to 130 V (in steps of 10 V)
- Edge Time <10ns in 50 ohms load @100V
- Output impedance <32 ohms
Data Acquisition
- Architecture Full digital delay and sum architecture
- Digitizing Frequency 50/100 MHz
- Digitizer Resolution 12 bits
- Data Processing 16 bits samples
- Data recording Full raw data recorded
- Max A-Scan Length 8192 samples (32 metres in steel LW, 50MHz, 1:128)
Scan & Views
- Supported Scans S-Scan & L-Scan
- Real Time Views S, L, B, C-Scan, Top and End view
- Colour Maps 10 Standards (Rainbow, Grayscale, Spectrum, Aeronautic or custom)
- Multi Group Multiple Sector scans and TOFD
Conventional UT/TOFD (Mono Element Channels)
- No. of Channels 2 TX/RX (2 multiplexed channels)
- Test Mode Pulse-Echo, transmit/receive, TOFD
- Bandwidth 200kHz – 18MHz (-3dB)
Receivers
- Gain Range 102dB (-30dB to 72dB)
- Bandwidth 200kHz – 18MHz (-3dB)
- Filter Bands Narrow bands centred at 0.5 MHz, 1 MHz, 2.25 MHz, 5 MHz, 7.5MHz, 10 MHz and 15 MHz; Broadband at 1 MHz to 18 MHz (-6dB)
DAC
- DAC Quantity 1 with 3 sub-DAC (per focal law in PA)
- Time Corrected Gain (TCG)
Gates
- A-Scan Gates 4 gates per A-scan (3 extracted A-scans per S/L-scan)
- Gate Trigger Flank/Peak
- S/L-Scan 2 Extraction Box per S/L-scan
- Alarm LED 1 (sync on all gates & DACs)
- Measurements Available in A-Scan view
- 1D Peak (FSH, dB, D, BPL, SD)
- 1D Flank (FSH, dB, D, BPL, SD)
- Echo to Echo
- Data File Size 3GB
- Scanning Speed 10 – 15cm/s (3.9-5.9 in/s)
جهت مشاوره بیشتر با کارشناسان شرکت پترو پژوهش تماس حاصل فرمائید.
شرکت پترو پژوهش خاورمیانه(سهامی خاص)
ارائه دهنده تجهیزات بازرسی غیر مخرب NDT
تلفکس فروش :
021-77228679
021-77130687-8
کلمات کلیدی : عيب ياب التراسونيک فیزره با سيستم Phased Array مدل VEO داراي سيستم همزمان TOFD و A-Scan ساخت شرکت Sonatest انگلستان-عیب یاب اولتراسونیک فیزره VEO-عیب یاب سه بعدی سوناتست